Układ logiczny IC - Generator parzystości, kontrolka NXP Semiconductors 74HCT280D,652 Generator parzystości/tester SO-1

  • Nr produktu: 1116062
  • Nr producenta: 74HCT280D,652
  • EAN: 2050003501309

Układy scalone wiodących producentów. Proszę pamiętać o naszej obszernej dokumentacji, którą mogą Państwo bezpłatnie ściągnąć.

Wydaj 199 zł i skorzystaj z darmowej dostawy.

W czym możemy pomóc?

  • Bezpieczne płatności
  • Zaufany sklep
  • Certyfikowany sprzedawca
  • Gwarancja
  • 20 dni na zwrot
Rodzaj (typ producenta) 74HCT280D,652
Obudowa SO-14
Producent NXP Semiconductors
Kod producenta NXP
Ilość zintegrowanych obwodów 9 Bit
Maksymalne napięcie zasilania 5.5 V
Minimalne napięcie zasilania 4.5 V
Logika IC Typ Układ logiczny IC - Generator parzystości, kontrolka
Seria (elementu półprzewodnikowego) 74HCT
Rodzaj montażu montaż na powierzchni
Maksymalna temperatura robocza +125 °C
Minimalna temperatura robocza -40 °C
Typ logiki Generator parzystości/tester

Dane techniczne

Rodzaj (typ producenta) 74HCT280D,652
Obudowa SO-14
Producent NXP Semiconductors
Kod producenta NXP
Ilość zintegrowanych obwodów 9 Bit
Maksymalne napięcie zasilania 5.5 V
Minimalne napięcie zasilania 4.5 V
Logika IC Typ Układ logiczny IC - Generator parzystości, kontrolka
Seria (elementu półprzewodnikowego) 74HCT
Rodzaj montażu montaż na powierzchni

Do pobrania

Produkty podobne

Zobacz pozostałe produkty w kategorii Układy logiczne - generatory parzystości

W czym możemy pomóc?