
1/2
Miernik grubości warstw
podłoża zawierające żelazo
0 - 1250 µm
fabryczna (bez certyfikatu)
(D x S x W) 25 x 21 x 5.3 cm
750 g
LCD
0.1 µm
3 %
1 szt.
1250 µm
0 µm
Ultradźwięk
21 cm
5.3 cm
25 cm
10 mm
tak
Karta katalogowa 756160 Sauter TE 1250-0.1F Miernik grubości warstw 0 - 1250 µm
Instrukcje obsługi i wskazówki dotyczące bezpieczeństwa 756160 Sauter TE 1250-0.1F Miernik grubości warstw 0 - 1250 µm
Informacje 756160 Sauter TE 1250-0.1F Miernik grubości warstw 0 - 1250 µm
2678,00 zł*
Do korzystania z produktu zgodnie z przeznaczeniem wymagane są niezbędne akcesoria